Metrologia Aplicada ao Sistema de Gestão

Será realizado, no dia 17 de outubro, o curso de Metrologia Aplicada ao Sistema de Gestão, em Salvador.

Dentre os temas abordados, estão: Requisitos das Normas ISO 9001, ISO 14001 e OHSAS 18001 ligados à metrologia; Seleção Calibração e/ou verificação dos equipamentos de medição considerando a tolerância do produto/processo; Conceitos básicos de estatística; e Incerteza do resultado da medição x especificação do produto.

Mais informações: (71) 3272-0053 / 3491-6835 ou treinamento@cristalcons.com.br